玻璃上Electra 92电导率的测试

薄膜的电导率可以通过多种方法确定,例如通过非接触涡流映射或在直接接触后使用四点探针法(四点测量)。虽然绝对测量精度较低,但也非常适合这样的比较,使用简单的欧姆表(2 个接触点)进行直接测量。对于有意义和可重复的结果来说,足够好的接触是必要的。如果小于 100 nm 的层直接与测量尖端接触,则敏感的导电胶层很容易损坏。同时,由于接触面积非常小,因此很难控制是否真的进行了接触。为了降低有机半导体层和传感器之间的过渡电阻,因此使用尽可能宽的接触区域是有利的。通过将银浆(溶剂中的银纳米颗粒,Aldrich)小心地应用到预先涂有 Electra 92 的石英板的规定距离处,在银层和导电层之间获得了相对较大的接触面积。然后可以很容易地在测量仪器(金属夹)和银层之间建立良好的电接触,并且可以测量电阻。膜厚(d ) 导电层的厚度预先用 Dektak 150 进行轮廓测量。

电阻率 R spec 和 R square 可以计算如下:

Rspec = R * A/l

如果计算出的电阻率 R spec 与薄膜厚度 (d) 相关,则 Rsquare 结果为:

Rsquare = Rspec / d

比 电导率 计算如下: L = 1/ R spec  = l/ R*A

 = 测量电阻,  spec  = 比电阻,  sq  = Rsquare

A  = 载流面积(横截面 = 高度 x 宽度),  l  = 电极长度/距离(银条),  L  = 电导率,  d  = 薄膜厚度(高度)

根据各自的层厚度,使用 Electra 92(AR-PC 5090.02 和 AR-PC 5091.02)进行测量得到可重复性良好的电阻率值,范围约为 0.1 至 4 Ωm,对应于 0.25 – 10 S/m 的特定电导率.

石英上的Electra 92导电胶层的电导率与薄膜厚度有关

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